產(chǎn)品中心您的位置：網(wǎng)站首頁 > 產(chǎn)品中心 > > 檢定標準器 > XGT光譜中性衰減低透過率模擬器

光譜中性衰減低透過率模擬器

更新時間：2024-03-15

訪問量：456

廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商

生產(chǎn)地址：

簡要描述：

在儀器測定波長名義值（589nm、
880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)，
對于衰減比為 10%、1%，其衰減相對
變化不超過±20%。透過率光譜中性
衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響
不超過儀器的最小分度示值。

在線詢價聯(lián)系我們

產(chǎn)品介紹：

品牌	其他品牌	供貨周期	現(xiàn)貨
應(yīng)用領(lǐng)域	綜合

在儀器測定波長名義值（589nm、 880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)，對于衰減比為 10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計》計量檢定規(guī)程要求，檢定校準自動旋光糖量計低透過率示值誤差和重復(fù)性時，對于確實無法采用機械斬波低透過率模擬器時，采用的透過率光譜中性衰減模擬器。在儀器測定波長名義值（589nm、 880nm、882nm）上下 10 nm 范圍內(nèi)，對于衰減比為 10%、1%，其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。JJG536-2015《旋光儀與旋光糖量計》計量檢定規(guī)程要求，檢定校準自動旋光糖量計低透過率示值誤差和重復(fù)性時，對于確實無法采用機械斬波低透過率模擬器時，采用的透過率光譜中性衰減模擬器。